♦️高质量SiC晶圆,适用于研究和实验。
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SiC衬底规格:
- 尺寸:6英寸;
- 直径:150毫米±0.5;
- 厚度:350微米±25;
- 类型:偏轴:N型;
- 主平面位置:<1120>+/-5度;
- 外延表面检测
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表面坑(尺寸 > 0.2微米):≤ 5000个
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表面缺陷(尺寸 > 10微米):≤ 1个/平方厘米;
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BPD计数:≤ 20个
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晶粒成品率(2*2毫米,EE 5毫米):≥ 95%;
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缓冲层
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目标厚度(平均):0.5微米±10%;
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目标掺杂浓度(平均):1.0E18/立方厘米±10%;
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漂移层
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目标厚度(平均):10微米±6%;
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目标掺杂浓度(平均):8.5E15/立方厘米±10%;
- 晶圆边缘:倒角;
- 表面光洁度:双面抛光,Si面CMP;
- 包装:多片盒或单片容器;
